可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱兩槽式直銷廠家

產(chǎn)品概況

   本系列冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)主要用於測(cè)試材料對(duì)*溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似於不連續(xù)地處?kù)陡邷鼗虻蜏刂械那樾危?nbsp;  冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試。熱震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，   采用PID系統(tǒng)，各類產(chǎn)品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開(kāi)或破層及位移等所引起的電化學(xué)變化，   PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動(dòng)控制，將使您操作簡(jiǎn)易。      可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱兩槽式直銷廠家冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 5部分：溫度沖擊試驗(yàn)GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)1、溫度范圍：－40℃～150℃、－60℃～150℃2、高溫蓄熱箱： 50℃～200℃3、低溫蓄冷箱：－20～10℃、－40～10℃、－60～10℃4、溫度波動(dòng)度：±1℃  5、溫度誤差：不大于±2℃ 6、預(yù)冷下限溫度：≤-65℃ 7、工作室沖擊溫度：－60℃～200℃ 8、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min 9、本沖擊試驗(yàn)箱符合：   GJB150.3－86  GJB150.4－86  GJB150.5－86