半導體桌上型恒溫恒濕試驗箱 36L SM系列

臺式恒溫恒濕試驗箱性能指標符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設備》的要求

半導體桌上型恒溫恒濕試驗箱 36L SM系列

電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
二、產品用途:
臺式恒溫恒濕試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域*的檢測設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行恒定試驗的溫濕度環(huán)境變化后的參數及性能。

性能指標:    
1.溫度范圍: 室溫+10℃~150℃
2.溫度波動度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度：≤±2℃
4.濕度范圍：85～98％R.H
5.濕度偏差：±3%R.H
6.濕度波動：±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度：設定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃；濕度：設定精度±1％R.H，指示精度±1％R.H，解析度±1％R.H
5.升溫速率: 1.0～3.0℃/min 

執(zhí)行與滿足標準
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件；
2.GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術條件；
3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件；
4.GB/T2423.50-1999恒定濕熱試驗Ca；
5.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
6.GB/T2423.4-2008交變濕熱循環(huán)試驗；
7.GB/T2423.34-2005溫濕度組合循環(huán)試驗。